3,、測(cè)試效率? 每“單個(gè)用戶”占用一個(gè)測(cè)試位進(jìn)行免費(fèi)測(cè)試,,大致測(cè)試效率如下: ? ① BET比表面積,2個(gè)工作日/樣,; ? ② 比表面積及孔容孔徑分析(介孔儀器),,2個(gè)工作日/樣; ? ③ 比表面積及孔容孔徑分析(微孔儀器),,4個(gè)工作日/樣,;
BeiShiDe Instrument All rights reserved. Power by:beishide.com 版權(quán)所有 @ 2021 電話4008-457-456 京公網(wǎng)安備 11010802025944號(hào) 關(guān)鍵詞:比表面積儀,比表面積分析儀,比表面積測(cè)定儀,比表面積測(cè)試儀,貝士德儀器,蒸氣吸附儀,高壓吸附儀,多組分競(jìng)爭(zhēng)吸附,穿透曲線分析儀,化學(xué)吸附儀,物理吸附儀
3,、測(cè)試效率? 每“單個(gè)用戶”占用一個(gè)測(cè)試位進(jìn)行免費(fèi)測(cè)試,,大致測(cè)試效率如下: ? ① BET比表面積,2個(gè)工作日/樣,; ? ② 比表面積及孔容孔徑分析(介孔儀器),,2個(gè)工作日/樣; ? ③ 比表面積及孔容孔徑分析(微孔儀器),,4個(gè)工作日/樣,;
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